| 电路板故障检测仪 型号:BK19-ICT4040UXPII/中国 | 库号：M41601 | 名称：西化仪（北京）科技有限公司 ：cm1-c102赵静 ： （公司手机） 地址：北京西直门成铭大厦B16E ：100035 |
| 产品特点： 在维修各种电子设备时，您是否常因图纸资料不全而束手无策？您是否常因高昂的维 修费用而增添烦恼？ [ICT]系列检测仪帮助您解除电路板维修中的烦恼。配合电脑使用，全部智能化。它利 用电脑来弥补人工维修能力的不足，能够在维修人员缺乏图纸资料或不清楚电路板工作原 理的情况下，对各种类型的电路板进行ASA分析或ICT测试，在线检测元器件好坏，迅速检 测到电路板上故障元器件。简捷经济地修好各种类型电路板。 产品特点： ◆*的测试技术，强大的驱动能力，任何故障原因的电路板皆可修好 ◆友好简单的中文操作界面，不经专业训练，任何人均可成为维修专家 ◆无需电路原理图，不必知道器件型号，对任何电路板皆可快速维修 ◆40/40×2路数字电路测试功能，备有TTL/CMOS/RAM及中规模集成电路数据库； ◆40/40×2（ASA）V/I，曲线分析测试功能 ◆电路板测试存储功能，被测板可与之比较 ◆与进口同类仪器比较，性价比更优，操作更方便 ◆通用于各类双列直插式封装芯片，可为大中规模集成电路提供分析测试。 ◆本功能亦可通过学习记录，比较分析来测试。 技术规格： ICT-4040XP 并口 Windows界面可在WIN98，WIN2000，WIN XP 等系统下工作 双CPU工作，速度更快，效率更高。 功能测试40×2通道 VI曲线测试40×2通道 双测试夹VI曲线测试 网络提取 程控加电 EPROM/RAM在线读取 模拟器件 VI曲线测试 总线隔离信号 中文维修笔记 ◆[ICT]系列检测仪检测更加可靠准确 ■ 功能测试软件设上拉电阻——方便集电极开路门的测试 ■ 功能测试外供电源稳定可靠——各种大、中、小型被测电路板皆可测试 ■ 功能测试具有三态识别能力——可测三态器件和IC负载能力下降故障 ■ V/I测试正负扫描电压——同时检查正/反向V/I曲线 ■ V/I测试六个扫描频率——保证V/I曲线测试稳定可靠 ■ V/I测试三种测试电压幅度——确保各类器件的V/I测试 ◆集成电路在线功能测试 本功能采用后驱动隔离技术，可在线判定IC逻辑功能是否正确，可测74系列、 4000/45000逻辑IC、75系列接口IC及各种存储器等千余种集成电路。 1、快速测试：直接 显示测试结果，迅速确定可疑IC 2、分析测试：显示全部测试过程，测试激励。预期和实 际响应，帮助分析故障原因 3、器件识别：查找无标记型号IC或同功能不同型号的IC。 ◆集成电路在线状态测试 通过好坏板上相应IC的状态进行比较，找出有故障的IC。1、状态学习：在线学习无故 障IC的引脚关系，互连状态和测试的激励与响应，并存入数据库中 2、状态比较：同故障 板上相应IC在线进行状态比较，根据两者差异判定IC好坏 3、状态显示：显示存入电脑库 中的各IC的状态资料。 ◆集成电路离线功能测试 离线测试IC功能好坏，自动识别未知型号的芯片 ◆V/I曲线测试 通过好坏板上相应节点的动态阻抗圈的异同判定故障节点及故障IC 1、曲线学习：在线 学习无故障板上各节点的动态阻抗曲线（V/I曲线），并存入数据库中 2、曲线比较：同故 障板上相应节点的动态阻抗曲进行比较，根据差异大小及维修经验判定与此节点相关的IC 是否损坏 3、曲线显示：显示已存入电脑库中电路板上各个节点的动态阻抗图资料大规模 集成电路分析测试 ◆网络提取测试 使用户方便的测试出元器件之间的连接关系，；辅助判断芯片的好坏。实现网络提取采 用了四种模式： 1、探棒对探捧（“棒”—“棒”模式） 2、探捧对测试夹（“棒”—“夹”模式） 3、测试夹对探捧（“夹”—“棒”模式） 4、测试夹对测试夹（“夹”—“夹”模式） ◆开发编译 TVED为每一块电路的每一个子测试都安排了一个说明文件。该说明 文件可以通过任何一个文本编辑器建立，并按TVED要求转换后即可 与相应子测试关联起来，随时用热键查看相应说明文件。 1、TVED允许两种建立测试图形和方法 a）在TVED图形界面上直接建立 b）读入DCL语言的编译结果 2、编辑测试图形 利用TVED提供的波形编辑功能，参考取回的响应，不断对测试图形加 以调整、修改。 3、4种测试方式： a）完整执行一个测试 b）执行一个测试的一部分 c）循环执行 d）单步运行 备注信息： 比旧款的4040/8080增加了以下功能： ◆网络提取测试 使用户方便的测试出元器件之间的连接关系，；辅助判断芯片的好坏。实现网络提取采 用了四种模式： 1、探棒对探捧（“棒”—“棒”模式） 2、探捧对测试夹（“棒”—“夹”模式） 3、测试夹对探捧（“夹”—“棒”模式） 4、测试夹对测试夹（“夹”—“夹”模式） ◆开发编译 TVED为每一块电路的每一个子测试都安排了一个说明文件。该说明 文件可以通过任何一个文本编辑器建立，并按TVED要求转换后即可 与相应子测试关联起来，随时用热键查看相应说明文件。 1、TVED允许两种建立测试图形和方法 a）在TVED图形界面上直接建立 b）读入DCL语言的编译结果 2、编辑测试图形 利用TVED提供的波形编辑功能，参考取回的响应，不断对测试图形加 以调整、修改。 3、4种测试方式： a）完整执行一个测试 b）执行一个测试的一部分 c）循环执行 d）单步运行 新品特点： 新型的ICT-4040UXP （ICT4040UXP）可在WIN98，WIN2000，WIN XP 等系统下工作，双CPU工作，速度更快，效率更高，可测三端器件，支持USB接口. |
