rackScan-DUO跟踪式三维扫描系统 是一套同时具备三维扫描和探测功能的跟踪式三维扫描系统。
rackScan-DUO跟踪式三维扫描系统 三维扫描系统无须贴点即可在各种环境下扫描物体，快速获得高精度三维模型，真正意义上实现了无损检测。
rackScan-DUO跟踪式三维扫描系统 是TrackScan-SOLO的进阶版，功能更加强大，在测量范围和精度上都有较大提升，且测量方式可灵活机变，可应对多种三维扫描需求。
| rackScan-DUO跟踪式三维扫描系统 独特的跟踪技术： LED光学跟踪技术，主动寻靶定位，具备更强的抗力和更大的工作量程。 超大的测量范围： 激光扫描时工作距离可达10米，接触式光笔测量距离可达15米，轻松实现大物体三维检测。 |  |
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 | rackScan-DUO跟踪式三维扫描系统 接触式测量兼容： 配合TrackProbe 光笔，可实现接触式三维测量，1μm分辨率保证关键点高精度三维数据获取。 灵活的测量方案： 支持单镜头、多镜头等多种光学跟踪装置方案，根据需求调整工作区域，扫描区域和扫描精度之间平衡 |
| 测量范围更广，精度更高 TrackScan-DUO是TrackScan-SOLO的升级版  | |
| 独特的跟踪技术 LED光学跟踪技术，无须贴点，主动寻靶定位， 大幅提升三维测量效率  | |
双重模式 | |
极高精度 | |
| 超大量程 | |
| 独特的定位模式 TrackScan-DUO配置了两台M-Tracker，测量方式更为灵活，可支持单相机、双相机光学跟踪方案，扩展测量范围、提升测量精度双相机M-Tracker工作时， 共同视野为高精度视野，单个相机的单独视野为扩展视野，用户可根据扫描区域和精度要求调整相机的角度和工作区域  | |
| 挪威制造 品质 挪威，Metronor倾力打造，由碳纤维航天级轻质强力材料制造，品质保证  | |
| 型号 | TRACKSCAN-DUO系统 | ||
|---|---|---|---|
| 设备 | TRACKPROBE 光笔 | TRACKSCAN 扫描仪 | |
| 测量范围 | 15m | 10m | |
| 系统精度 | 0.02mm | 0.03mm | |
| 空间精度* | 2.5m | 0.04mm | 0.04mm |
| 6m | 0.08mm | 0.08mm | |
| 10m | 0.12mm | 0.12mm | |
| 光笔类型 | 无线手持、碳纤维笔身 | 不适用 | |
| 探针类型 | 可支持快速更换探针、红宝石探头 | 不适用 | |
| 分辨率 | 1μm | 0.05mm | |
| 扫描激光类别 | 不适用 | ClassII （人眼安全） | |
| 扫描速率 | 不适用 | 480000次测量/秒 | |
| 扫描基准距 | 不适用 | 300mm | |
| 扫描景深 | 不适用 | 250mm | |
| 支持文件格式 | igs | stl、stp、igs、ply、xyz、dae、obj、asc | |
| 环境要求 | 工作温度 | -10℃~45℃ | |
| 存放温度 | -25℃~65℃ | ||
| 湿度要求 | <95%，无冷凝 | ||
| 空间精度检定基于ISO10360-2标准 | |||
