此设备基于蓝光面扫描三维测量原理,测量时由数字投影装置向被测物体快速投射一系列编码正弦光栅图像,并由工业相机同步采集经物体表面调制而变形的光栅图像,然后由计算机软件根据拍摄的系列光栅图像,快速计算出物体表面的三维数据。此数据可广泛用于物体数字化、逆向设计和精度检测等领域。

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详细信息IP属地 上海 此设备基于蓝光面扫描三维测量原理,测量时由数字投影装置向被测物体快速投射一系列编码正弦光栅图像,并由工业相机同步采集经物体表面调制而变形的光栅图像,然后由计算机软件根据拍摄的系列光栅图像,快速计算出物体表面的三维数据。此数据可广泛用于物体数字化、逆向设计和精度检测等领域。
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